AUTO-JZ010型晶振測試儀
簡要描述：名稱:AUTO-JZ010型晶振測試儀 規(guī)格:可定制 入箱:可定制 檢測標(biāo)準(zhǔn): 材質(zhì)/級(jí)別:可定制
產(chǎn)品型號(hào)：- 廠商性質(zhì)：
- 更新時(shí)間：2024-08-14
- 訪 問 量：906
產(chǎn)品詳情
AUTO-JZ010型晶振測試儀是一款用來測試晶振頻率、精度、漂移等指標(biāo)的通用測試儀器。
儀器采用超高精度的有源溫補(bǔ)晶振作為時(shí)間基準(zhǔn)；高速ECL電路進(jìn)行信號(hào)的整形、放大、計(jì)數(shù) ;單片機(jī)進(jìn)行系統(tǒng)管理及數(shù)據(jù)處理。儀器自身帶有最常用的Pierce振蕩電路，可以用來直接測試35MHZ以下的無源基頻晶振（超過35M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。另外系統(tǒng)留有“有源晶振”的測試接口，配備相應(yīng)的附件可用來測試有源晶振；而且系統(tǒng)還設(shè)置了外部信號(hào)的測量通道，可以擴(kuò)展作為頻率計(jì)使用。
功能及用途
本儀器可直接測量35MHz以下無源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿足絕大部分晶振測量的需要。（絕大多數(shù)的基頻晶振頻率都<35MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）。可直接測量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測試座”也可測量貼片封裝晶振；
另外本儀器還留有“有源晶振測試接口”，配備不同規(guī)格的“貼片晶振測試座”后可以測量5v、3.3v、1.8v供電的不同封裝的有源晶振；而且還留有外部信號(hào)輸入接口，可以測量其它設(shè)備的信號(hào)。
另外本儀器還留有“有源晶振測試接口”，配備不同規(guī)格的“貼片晶振測試座”后可以測量5v、3.3v、1.8v供電的不同封裝的有源晶振；而且還留有外部信號(hào)輸入接口，可以測量其它設(shè)備的信號(hào)。
該設(shè)備可以測量如下類型的參數(shù)：
1.頻率
2.周期
3.頻率偏差率
4.頻率漂移率
5.漂移監(jiān)測時(shí)間
1.頻率
2.周期
3.頻率偏差率
4.頻率漂移率
5.漂移監(jiān)測時(shí)間
主要技術(shù)參數(shù)：
| 頻率測量范圍 | 20Hz-100Hz |
| 周期測量范圍 | 1ns-10s |
| 采樣時(shí)間（T） | 0.01s，0.1s，1s，10s |
| 頻率分辨率（R.P.） |
1. T=0.01s 時(shí)R.P.=100HZ T=0.1s 時(shí)R.P.=10HZ T=1s 時(shí)R.P.=1HZ T=10s 時(shí)R.P.=0.1HZ |
| 基準(zhǔn)頻率 | 10MHz |
| 精準(zhǔn)精度 | 2ppm |
| 測量精度 | 2.5倍基準(zhǔn)精度+1 R.P. |
| 外部輸入信號(hào)幅度 | 50mv-10v |
| 環(huán)境溫度 | 20±15℃ |
| 電源 | 100-240v、50/60Hz |
| 功耗 | <10W |
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